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突破 224G 信號完整性瓶頸:是德科技 DCA 平臺助力 1.6T 光口開發(fā)

發(fā)布時間:2026-03-19 來源:轉載 責任編輯:lily

【導讀】網(wǎng)絡互連技術正加速邁向單通道 224G 及 1.6T 的新時代。然而,這一跨越也帶來了信號完整性受損、一致性測試裕量嚴苛以及大規(guī)模生產(chǎn)測試效率低下等嚴峻挑戰(zhàn)。針對這些痛點,是德科技(NYSE: KEYS)近日正式宣布推出全新的 224G 測試解決方案,通過擴展其 1.6T 端到端產(chǎn)品組合,為下一代 AI 數(shù)據(jù)中心的光電互連提供了一套覆蓋從研發(fā)驗證到制造環(huán)節(jié)的全流程、集成化測試利器。


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隨著 AI 工作負載推動前所未有的橫向和縱向擴展架構,數(shù)據(jù)中心網(wǎng)絡正迅速過渡到 224G /lane 技術。該技術進步在開發(fā)生命周期中帶來了顯著挑戰(zhàn),包括極高數(shù)據(jù)速率下的信號完整性、更嚴苛的一致性測試裕量以及在大規(guī)模生產(chǎn)中高效且可重復測試的需求。


工程師需要集成化、符合標準的解決方案,在確保互操作性、可靠性和良率的同時,降低測試復雜度。全新基于 數(shù)字通信分析儀(DCA)的測試應用支持符合 IEEE 802.3dj光電接口開發(fā),涵蓋從早期驗證到生產(chǎn)測試全過程。這些工具能夠幫助工程師更快地從系統(tǒng)啟動和表征階段過渡到一致性驗證階段,從而降低設計風險,并加速下一代單通道 224G 數(shù)據(jù)中心和 AI 互連產(chǎn)品的上市進程。


全新 1.6T 光電解決方案產(chǎn)品組合包括:


224G DCA 光發(fā)射機一致性測試軟件(IEEE 802.3dj)


Keysight N1095DJCA是一款符合 IEEE 802.3dj 標準的光發(fā)射機一致性測試應用,旨在支持設計優(yōu)化過程中保證光學性能的一致性測試。該應用在 DCA 平臺上提供高保真、可重復的測量結果,并支持新型N1093 DCA-M 采樣示波器,從而為下一代光口提供更高的靈敏度和更優(yōu)的測量裕量。


實現(xiàn)在研發(fā)和預生產(chǎn)環(huán)境中,對光發(fā)射機質量指標——TDECQ和TDECQ-CER進行相關性分析。


通過提供符合 IEEE 802.3dj 測試的 1.6T 單模光收發(fā)機自動化測試,縮短調試和驗證時間。


提供高靈敏度測量,確保在 224G 數(shù)據(jù)速率下保持光學性能符合標準要求,并保證足夠的性能裕量。


提供全面的測量報告,在數(shù)秒內(nèi)即可將復雜數(shù)據(jù)轉化為可直接交付客戶的報告。


224G DCA 電發(fā)射機測試軟件(IEEE 802.3dj)


Keysight N1091DJPA 是一款專為研發(fā)調試設計的 IEEE 802.3dj 電接口測試軟件。


工程師可使用半速率時鐘設置來表征發(fā)射機行為,是早期芯片、ASIC 和系統(tǒng)驗證的理想選擇。


該應用是發(fā)現(xiàn)裕量、隔離問題并快速提供設計決策依據(jù)的理想工具。


通過應用驅動的工作流指導用戶完成設置和配置,加快電氣測試,減少手動復雜性。


結合 Keysight DCA-X 寬帶采樣示波器和 DCA-M 時鐘恢復模塊,縮短整體測試時間。


224G 多模 DCA-M 采樣示波器


N1096 多模 DCA-M 能夠滿足 AI 驅動型數(shù)據(jù)中心的高速需求,為下一代 AI 基礎設施的多模短距應用提供 224 Gbps 或 112 GBd PAM4 測量能力。


通過高帶寬測量加速 224 Gbps 多模光學開發(fā),突破以往測量極限。


支持下一代 1.6T AI 應用多模光組件與模塊開發(fā)。


加快 1.6T 多模光收發(fā)器從研發(fā)到早期制造的進程。


是德科技網(wǎng)絡與數(shù)據(jù)中心解決方案副總裁 Joachim Peerlings 博士表示:“隨著行業(yè)快速邁向 224G 和 1.6T 互連,客戶需要能夠覆蓋光電領域的測試解決方案,并能從研發(fā)無縫擴展到生產(chǎn)的測試方案。這些新解決方案體現(xiàn)了 Keysight 致力于支持構建可靠、高性能 AI 數(shù)據(jù)中心網(wǎng)絡的承諾?!?/p>


是德科技此次推出的基于數(shù)字通信分析儀(DCA)的 224G 光電測試組合,不僅完美契合了 IEEE 802.3dj 標準,更通過高靈敏度測量、自動化測試流程及快速報告生成能力,成功打通了從早期芯片表征到最終生產(chǎn)驗證的技術壁壘。正如是德科技網(wǎng)絡與數(shù)據(jù)中心解決方案副總裁 Joachim Peerlings 博士所言,這套無縫銜接研發(fā)與生產(chǎn)的解決方案,彰顯了是德科技致力于構建可靠、高性能 AI 基礎設施的承諾。


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